荧光显微镜

对极小样品的非破坏性分析

在同步辐射电子储存环协会BESSY II的光束线U41-TXM上,搭建了用于软X-射线波段的新型全视野透射型X-射线显微镜,它用于在10纳米尺度上表征材料的纳米结构、化学性质和组成。除纳米断层扫描以外,还开发了荧光光学显微镜,其用于对数微米大小的极小样本进行非破坏性分析,例如分析无机或历史性样本中的重金属分布,以及开展生命科学、地质学和材料科学的相关研究。

聚光器定位

该X-射线显微镜的聚光器是铅晶质玻璃毛细管,其将直径约300微米的高能同步加速器射束聚焦。高度聚焦的激发辐射用于在ppm范围内分析纳克探头;可追踪飞克元素。

使用7轴定位系统来定位该毛细管,该定位系统包括长距离线性平台以及顶部的6轴SpaceFAB。同步加速器射束穿过孔径到达毛细管聚光器。由于处于10-7百帕的高真空环境,所有轴均配有兼容真空的步进电机。

为达到所需精度,优异的位置重复性和高刚度必不可少。SpaceFAB的并联运动设计允许通过软件命令按需设定枢轴点。因此,操作可轻松适应不同的聚焦光学元件。


技术数据SpaceFAB
行程10毫米×10毫米×10毫米,加线性平台LS‐110的100毫米
角范围±5度
分辨率<100纳米,< 10微弧度,开环
环境10-7毫巴
样品温度低温和120摄氏度之间

整合荧光显微镜

此真空室内还集成了荧光检测装置。因此可在相同条件下对同一个样本运用两种分析方法,这提供了崭新的视角来了解样本结构。

此装置是作为原有显微镜的附件来调试的,因此必须符合额外的限制条件才能安装到真空室中。PI miCos设计并交付了可直接安装到真空室中的整套装置,包括光漏斗、物镜定位以及滤光器更换系统。

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