全磁场软X-射线透射显微镜

用于样本超精密定位的SpaceFAB

伯克利先进光源(ALS)处的光束线6.1.2 (XM-1)专用于X-射线显微术和纳米尺度磁性的研究。位于伯克利的X-射线光学中心是劳伦斯伯克利国家实验室(LBNL)材料科学分部(MSD)内的一个多学科研究组。

在X-射线透射显微镜内,样本需要按照几百微米的比例在真空外被定位,但必须非常靠近光束出射窗,以防吸收空气。"close"X-射线光束的空间分辨率为10纳米,因此位置分辨率也需在同一范围内。

解决方案为一款定制六自由度SpaceFAB设计,采用步进电机用于优异的位置控制以及一个分辨率低至50纳米的升降台用于在光束方向上定位样本。

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