全内反射荧光显微术(TIRFM)的定位解决方案

在全内反射荧光显微术(TIRFM)中,激光束成平角射在显微镜载片、微量滴定板或培养皿的玻璃板上,以激发荧光。

然而,激光束的电磁场可以穿透玻璃板另一侧上的样品体积,形成一个穿透深度为100至200纳米之间的渐逝场。由于Z方向上受激区域的减少,Z向分辨率比标准的宽场或共聚焦荧光显微术要高。本例中,Z向分辨率一般为500纳米。这就是为什么荧光显微术中经常使用TIRFM作为一种相对简单又便宜的超分辨方法。

设定临界入射角

为了达到这一目的,在物镜边缘以特定角度垂直地移动一个带反射镜和透镜的辐射笼,以实现用于TIRF荧光激发的激光束的耦合。这可以通过两个>>Q-545 Q-Motion®精密线性平台来完成。由于其压电惯性原理,它们可提供纳米级精度的高位置分辨率,而且结构紧凑,最重要的是价格便宜。控制是通过E-870 PIShift驱动器电控

  • 紧凑型设计
  • 纳米级高定位分辨率
  • 快速定位

样本的高精度定位

PILine® XY位移平台快速定位平面上的样本,精度达十分之一微米,由>>C-867 PILine®运动控制器进行控制。
具有极低外形、高精度的PInano® XYZ压电陶瓷系统可安装在PILine®平台上,例如>>P-545.3R8S。它们在三个维度上都可实现1纳米的定位精度(X、Y和Z)。为了深入观察和显像,它在X和Y方向上执行纳米步进,以扫描整个样本。极其精细的运动使得Z向上可进行三维测量,从而实现焦点的相关位移。此外,PInano®还可配备非常快速可靠的>>E-727控制器,实现低噪声定位。