显微镜的纳米定位

快速 – 紧凑 – 纳米级

准确定位是所有类型显微镜中的关键要素。高分辨率显微镜必须能够准确且可重复地定位成像元件和样本。要求从物镜的z轴聚焦定位到样本在X、Y和Z方向以及通常在θX和θY方向有时甚至在θZ方向上的粗精定位。凭借广泛的产品组合,PI可满足所有主要制造商的倒置显微镜系统的要求。

粗精定位样本平台

  • 带控制器和操纵杆的U-780 PILine XY位移平台系统
    • 高分辨率压电陶瓷线性驱动器
    • 静止状态下自锁,低噪声
    • 由于热负载小、无润滑剂,因此稳定性较高
    • L10微米/秒至120毫米/秒的大动态范围
    • 行程达135毫米 × 85毫米
    • 与各种样本架相兼容
  • 多种精细定位平台,适用于以纳米级精度定位样本(样本架)
    • 在一个(Z)方向或多自由度中以(亚)纳米级精度定位; 取决于型号和要求
    • 多种不同的行程和速度

以纳米级精度进行聚焦和Z向叠加扫描:PIFOC物镜扫描仪

  • 凭借广泛的PIFOC透镜扫描仪,PI提供了您想要的仅进行实验/样本分析的功能。
  • 最新开发的扫描仪包括采用全新设计的具有更长稳定时间的PIFOC P-725.1CDE2。

的其他应用:

样本定位平台的应用

PIFOC扫描仪的其他应用


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