随着光子集成电路向大批量制造过渡，测试对于实现可扩展且具有成本效益的生产变得至关重要。 在本期播客中，PI光子全球产品组合总监Nikta Jalayer探讨了为何光学测试带来了与传统电学探测截然不同的挑战，以及为何晶圆级测试正成为AI和数据中心应用中采用光子学技术的关键推动力。 在此背景下，在晶圆级执行这些测试有助于提高良率、吞吐量和制造效率。
详细了解
- 为何光学晶圆级测试对于扩展光子集成电路制造至关重要
- 光学测试与传统电学探测有何不同，以及为何需要高精度对准与稳定的测试环境
- 晶圆级测试如何帮助提高良率、降低制造成本，并增加大批量光子生产的吞吐量
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